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摘要:
本文用分数维方法研究Alx Ga1?x As衬底上GaAs薄膜中的极化子特性,提出了确定GaAs薄膜的有效量子限制长度的一个新方法,解决了原来方法中在衬底势垒处有效量子限制长度发散的困难,得到了Alx Ga1?x As衬底上GaAs薄膜中的极化子的维数和结合能。
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文献信息
篇名 GaAs薄膜的有效量子限制长度及其极化子特性
来源期刊 物理学报 学科
关键词 分数维方法 极化子 GaAs薄膜
年,卷(期) 2013,(19) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 434-437
页数 4页 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.7498/aps.62.197302
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 田强 北京师范大学物理系 81 389 11.0 16.0
2 李华 装甲兵工程学院基础部 48 218 9.0 12.0
3 刘炳灿 装甲兵工程学院基础部 14 25 4.0 4.0
4 孙慧 北京师范大学物理系 9 16 2.0 4.0
5 严亮星 北京师范大学物理系 3 1 1.0 1.0
传播情况
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2013(0)
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研究主题发展历程
节点文献
分数维方法
极化子
GaAs薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
总被引数(次)
174683
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