智能电能表用计量芯片失效分析研究

• 作者: 张蓬鹤 张起豪 薛阳
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 计量芯片 智能电能表 失效分析
• 年，卷（期）: 2013,（17）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 95-96,28
• 页数: 3页
• 字数: 1937字
• 语种: 中文

摘要

智能电能表用计量芯片失效将引起整表计量的误差,本文通过对一例计量芯片失效现象进行分析,逐步找到失效点及判定失效模式,提出计量芯片失效分析的方法及流程,对设计人员发现设计上的缺陷、工艺参数不匹配等问题进行建议,提高计量芯片的可靠性,从根本上提高智能电能表的质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张蓬鹤		18	58	5.0	7.0
2	薛阳		13	52	5.0	6.0
3	张起豪		1	1	1.0	1.0