篇名 | The degradation mechanism of an AlGaN/GaN high electron mobility transistor under step-stress | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | AlGaN/GaN HEMT reliability degradation mechanism inverse piezoelectric effect | ||
年,卷(期) | 2013,(10) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 508-511 | |
页数 | 4页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/22/10/107303 |