基于边界扫描的SRAM测试技术的研究与实现

• 作者: 陈寿宏 颜学龙 黄新
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: SRAM测试 边界扫描测试 故障诊断 TCL语言
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 324-326
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文

摘要

静态随机存储器(SRAM)应用广泛,必须充分测试以保证其高可靠性；应用边界扫描的虚拟探针技术实现SRAM测试,分析SRAM功能结构并建立测试模型；以HY6264 SRAM存储器为被测对象进行DEMO板可测性设计,应用TCL语言描述其测试信息；实验证明,该方法可完成对SRAM外围线(包括控制线、数据线和地址线)和存储单元的测试与故障诊断,结果正确且诊断定位具体,具有较好的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	黄新	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	31	135	7.0	10.0
3	陈寿宏	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	37	107	5.0	8.0