弛豫铁电体的键能与配位数模型

• 作者: 曹万强 舒明飞
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 弛豫铁电性 介电弥散 键能 配位数
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 425-428
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.62.017701

摘要

基于一定浓度的杂质会在钛酸钡型铁电体中导致键能与配位数的高斯型分布原理,利用键能与配位数起伏模型导出了介电峰温与测量频率的关系.当键能和配位数的相对起伏接近时,其关系呈现出一般弛豫铁电体所普遍具有的Vogel-Fulcher函数形式,且冻结温度仅与键能的相对起伏和激活能有关.并由此解释了低掺杂浓度下杂质均匀分布导致弥散性的机理和超过临界浓度时的弛豫铁电性的机理.同时提出,杂质替代对畴的形成和生长所产生的强烈抑制作用及微畴化是实现键能起伏与配位数起伏一致的来源.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹万强	湖北大学材料科学与工程学院	73	277	8.0	15.0
2	舒明飞	湖北大学材料科学与工程学院	4	6	1.0	2.0