机内测试技术综述

• 作者: 李光升 董今朝 谢永成 魏宁
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 机内测试 测试性 虚警 智能BIT
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 550-553
• 页数: 4页
• 分类号: TN06
• 语种: 中文

摘要

机内测试(BIT)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,是实现可测试性设计的重要技术手段之一,文章在综合大量文献的基础上介绍了机内测试技术的定义、特点、结构、分类以及国内外发展现状等,重点阐述了目前研究和应用中的智能BIT技术,即灵巧BIT、自适应BIT以及基于时间应力测量的增强BIT,智能BIT技术大大改善了当前研究应用中存在的虚警率较高的不足,成为测试领域21世纪的重点研究项目之一,最后对测试性技术的发展趋势进行了探讨和展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢永成	装甲兵工程学院控制工程系	64	287	9.0	12.0
2	李光升	装甲兵工程学院控制工程系	64	279	9.0	12.0
3	魏宁	装甲兵工程学院控制工程系	34	135	7.0	9.0
4	董今朝	装甲兵工程学院控制工程系	6	39	4.0	6.0