基于有限立体角测量的谱色测温法

• 作者: 张忠政 程晓舫* 辛成运
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 辐射测温 辐射测量 定向光谱发射率 谱色测温
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 81-86
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.62.030702

摘要

辐射测温是通过测量物体表面发射的辐射来反演温度.本文结合线性发射率模型从辐射测温方程封闭求解的角度,解释了谱色测温通常需采用微元立体角测量或针对漫发射体的有限立体角辐射测量的原因,并推导出了有限立体角辐射测量条件下,具有非漫发射性质物体表面温度测量的辐射测温方程,该方程具有测量普适性.以此方程为基础,推导了具有测量普适性的谱色测温方程组,发现不同的辐射测量条件下,发射率标尺的取值范围相同,但物理意义发生了明显变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张忠政	中国科学技术大学热科学和能源工程系	11	68	4.0	8.0
2	辛成运	中国科学技术大学热科学和能源工程系	4	27	3.0	4.0
3	程晓舫*	中国科学技术大学热科学和能源工程系	1	6	1.0	1.0