近场测试对干涉仪测向体制的相位影响

• 作者: 程翔
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 干涉仪 近场 微波暗室环境 相位误差
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 13-16
• 分类号: TN965.2?34
• 语种: 中文

摘要

评估近场测试环境对干涉仪测向体制的相位影响,减小或消除近场测试造成的测向误差,是干涉仪体制测向精度试验时面临的一个重要问题.针对实际微波暗室测试环境下,近场测试方法对干涉仪测向体制的相位误差影响情况进行了分析和验证.并根据不同发射频率和发射距离下的仿真测试结果,指出了距离、安装布局等情况对相位测量误差的影响情况.对工程实践应用提供了理论基础.