矩阵式PTCR耐电压自动测试系统

• 作者: 戴世龙 黎步银 龚道远
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 热敏电阻 耐电压测试 矩阵式PTCR 过流保护
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 页码范围: 151-154
• 分类号: TN37?34|TP216
• 语种: 中文

摘要

为了解决PTC热敏电阻元件在耐电压测试过程中测试效率低以及测试结果的稳定性与可靠性差等问题,设计了矩阵式PTCR耐电压自动测试系统.系统由气缸夹持并推进样品夹具;采用高速MCU控制继电器组顺序对8×16矩阵式PTCR样品进行耐电压测试;各路均有过流保护电路,可实时监测回路电流并对过流迅速做出反应,且运用了去干扰技术;还可与上位机配合自动分选样品.实际应用表明,系统的测试结果准确稳定可靠,自动化程度高,提高了生产效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黎步银	华中科技大学光学与电子信息学院	55	340	10.0	14.0
2	龚道远	华中科技大学光学与电子信息学院	2	7	2.0	2.0
3	戴世龙	华中科技大学光学与电子信息学院	2	6	2.0	2.0