二维辉钼材料及器件研究进展

• 作者: 赖占平
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: MoS2 辉钼材料 纳米材料 集成电路
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 10-18
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.62.056801

摘要

经过几十年的发展,集成电路的特征尺寸将在10—15年内达到其物理极限,替代材料的研究迫在眉睫.石墨烯曾被寄予厚望,但由于其缺乏带隙限制了在数字电路领域的应用.近年来,单层及多层辉钼材料由于具有优异的半导体性能,有可能超过石墨烯成为硅的替代者而引起了微纳电子领域的广泛关注.本文对近二年国际上辉钼半导体器件研制、辉钼半导体材料的性能表征及制备方法研究等方面的进展进行了综述,并对大面积单层材料的研制提出了值得关注的方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赖占平	中国电子科技集团公司第四十六研究所	5	34	4.0	5.0