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忆阻逾渗导电模型中的初态影响*
忆阻逾渗导电模型中的初态影响*
作者:
刘海军*
徐欣
李智炜
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
忆阻器
开关元件
逾渗模型
初态分析
摘要:
逾渗网格模型是当前忆阻器件机理分析研究领域的热点之一,但现有模型缺乏对初态设定的讨论.本文对逾渗网格模型进行了简化,并基于此,通过电压激励步进的方式,研究了不同初态对单极性忆阻开关元件中逾渗导电通道形成的影响,分析了形成通道的动态过程以及相应的物理意义,验证了忆阻开关元件高低阻态的阻值实际表现为高斯分布而非理想双值稳态;而不同初态条件下,忆阻开关元件导电通道的形状存在着不同的“树形”结构,进而影响着其阻值的分布.研究成果有助于进一步揭示忆阻器尚未明确的导电机理,为今后对具体不同类型的忆阻元件的初态分析提供指导性作用.
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内容分析
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相关文献总数
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文献信息
篇名
忆阻逾渗导电模型中的初态影响*
来源期刊
物理学报
学科
关键词
忆阻器
开关元件
逾渗模型
初态分析
年,卷(期)
2013,(9)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
351-356
页数
分类号
字数
语种
中文
DOI
10.7498/aps.62.096401
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
徐欣
国防科学与技术大学电子科学与工程学院
18
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7.0
10.0
2
李智炜
国防科学与技术大学电子科学与工程学院
1
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刘海军*
国防科学与技术大学电子科学与工程学院
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二级引证文献(1)
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节点文献
忆阻器
开关元件
逾渗模型
初态分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
主办单位:
中国物理学会
中国科学院物理研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-3290
CN:
11-1958/O4
开本:
大16开
出版地:
北京603信箱
邮发代号:
2-425
创刊时间:
1933
语种:
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
总被引数(次)
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