阵列天线的自动测试技术研究

• 作者: 习强 史东湖
• 来源期刊: 计算机与网络
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列天线 幅相特性 自动测试 自动标校
• 年，卷（期）: 2013,（13）
• 所属期刊栏目: 技术论坛
• 页码范围: 61-63
• 页数: 3页
• 分类号: TN821.8
• 字数: 1801字
• 语种: 中文

摘要

介绍了阵列天线的幅相特性计算机自动测试的原理方法,给出了自动测试的原理框图和测试过程的具体流程,在此基础上进行了实物试验和实现,并成功应用到某多波束阵列天线测控设备上.实际应用结果表明,该方法与人工测试方法相比可以大幅度提高阵列天线多通道幅相特性的测试效率,方便对阵列天线进行自动零值装订和自动故障诊断,可以在阵列天线的测试中推广使用.