基于频率响应法的双CPU架构变压器绕组变形测试仪设计

• 作者: 王宾宾 蔡振江 贾宇申 韩丽娟
• 来源期刊: 科学技术与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 变压器绕组变形 频率响应法 双CPU DSP DDS 同步采样 FIR
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 2503-2508
• 页数: 6页
• 分类号: TM932
• 字数: 3009字
• 语种: 中文

摘要

针对日益增多的变压器绕组变形故障,设计了一种以高性能DSP芯片TMS320F2812及ARMRCortexTM-M3芯片STM320F103为核心的基于频率响应法的变压器绕组变形测试仪.详细介绍了系统硬件设计方案及软件编程思想.DSP模块负责高速数据采集与运算.ARM模块通过SPI总线与DSP通信,实现测试仪的数据管理、用户界面以及联机通讯.采用数字频率合成技术DDS对待测变压器绕组进行扫频测量.系统采用软件滤波和硬件同步交流采样技术减小测量误差.能够在不对变压器进行吊罩、拆装的情况下进行绕组变形测试,显示高、低压三相绕组频率响应曲线及相关系数R.仿真测试结果表明该装置能够满足变压器绕组变形的测试要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡振江	河北农业大学机电工程学院	52	400	10.0	18.0
2	贾宇申	河北农业大学机电工程学院	9	29	4.0	5.0
3	韩丽娟	河北农业大学机电工程学院	7	11	2.0	3.0
4	王宾宾	河北农业大学机电工程学院	3	11	2.0	3.0