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摘要:
结合环栅肖特基势垒金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)结构,通过求解圆柱坐标系下的二维泊松方程得到了表面势分布,并据此建立了适用于低漏电压下的环栅肖特基势垒NMOSFET阈值电压模型.根据计算结果,分析了漏电压、沟道半径和沟道长度对阈值电压和漏致势垒降低的影响,对环栅肖特基势垒MOSFET器件以及电路设计具有一定的参考价值.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 环栅肖特基势垒金属氧化物半导体场效应管漏致势垒降低效应研究
来源期刊 物理学报 学科
关键词 环栅肖特基势垒金属氧化物半导体场效应管 二维泊松方程 阈值电压模型 漏致势垒降低
年,卷(期) 2013,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 434-439
页数 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.7498/aps.62.108502
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张鹤鸣 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室 102 510 12.0 16.0
2 许立军? 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室 1 5 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
环栅肖特基势垒金属氧化物半导体场效应管
二维泊松方程
阈值电压模型
漏致势垒降低
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
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