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摘要:
利用基于密度泛函理论的第一性原理对In掺入ZnTe半导体后引入的各种缺陷进行了结构优化、能带和态密度分析及转换能级的计算.计算结果表明:掺杂后体系中主要存在两种缺陷,一种是In原子替换了Zn原子的置换型缺陷;另一种是由In替换Zn后再与临近的Zn空位形成的复合缺陷.二者分别在导带底下方0.26 eV和价带顶上方0.33 eV的位置形成各自的转换能级.电子在这两个转换能级之间跃迁辐射出的能量大小与实验测量到的能量大小相符,解释了原本发绿光的ZnTe在掺入In后发出近红外光的根本原因.
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文献信息
篇名 In掺杂ZnTe发光性能的第一性原理计算
来源期刊 物理学报 学科
关键词 ZnTe 半导体掺杂 近红外光 第一性原理
年,卷(期) 2013,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 89-95
页数 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.7498/aps.62.103102
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 令狐佳珺 西安交通大学理学院 1 1 1.0 1.0
2 梁工英? 西安交通大学理学院 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
ZnTe
半导体掺杂
近红外光
第一性原理
研究起点
研究来源
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研究去脉
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期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
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