CaCu3Ti4O12陶瓷介电模量响应特性的研究

• 作者: 李建英 李盛涛? 林春江 王辉
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: CaCu3Ti4O12陶瓷 模量 松弛过程 电导
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 页码范围: 087701-1-087701-6
• 分类号: 77.22.Gm|77.22.?d|81.05.Je
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.62.087701

摘要

由于CaCu3Ti4O12巨介电常数陶瓷的低频区直流电导较大,本文采用模量M′-f 频谱表征与分析了低频和高频的两个松弛极化过程.研究认为,这两个特征峰属于晶界区Schottky势垒耗尽层边缘深陷阱的电子松弛过程,其中高频松弛峰起源于晶粒本征缺陷的电子松弛过程,而低频松弛峰则为与氧空位有关的松弛极化过程.对于CaCu3Ti4O12这类低频下具有高直流电导的陶瓷材料,采用模量频谱能更有效地分析研究其损耗极化机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王辉	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	93	983	16.0	27.0
2	李建英	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	80	757	17.0	24.0
3	林春江	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	2	15	2.0	2.0
4	李盛涛?	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	2	15	2.0	2.0