绝缘子防污闪技术探讨

• 作者: 刘四新 袁建洲
• 来源期刊: 科技风
• 关键词: 绝缘子 防污闪 措施 污秽测量
• 年，卷（期）: 2013,（21）
• 所属期刊栏目: 科技前沿
• 页码范围: 34-35
• 页数: 2页
• 字数: 4137字
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了绝缘子污秽形成的原因，根据绝缘子表面性能的不同，分6个阶段讲述了亲水型绝缘子的放电机理，并提出了几种度量绝缘子污秽程度的方法。在分析我国防污闪技术存在的问题后，提出了几点能有效减少污闪事故的措施。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁建洲		3	3	1.0	1.0
2	刘四新		1	2	1.0	1.0