嵌入式微处理器的调试技术

• 作者: 施亮
• 来源期刊: 科技视界
• 关键词: 嵌入式微处理器 JTAG TAP BOUNDARY-SCAN
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 页码范围: 42-45
• 字数: 9160字
• 语种: 中文

摘要

本文先介绍了数码复合机中嵌入式微处理器 Quatro4110的 JTAG 接口标准,其次着重分析了 TAP (TEST ACCESS PORT)和BOUNDARY-SCAN 架构,最后阐述了引入到数码复合机的 Quatro4110嵌入式微处理器的 JTAG 应用调试技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	施亮		1	8	1.0	1.0