ZnS光学材料均匀性高精度测量技术研究

• 作者: 于振龙 李汝劼 杨砚文 王乔方 王贵全
• 来源期刊: 云光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 干涉法 ZNS 均匀性 高精度测量
• 年，卷（期）: ygjs_2014,（1）
• 页码范围: 6-8
• 页数: 3页
• 分类号: TH74

摘要

干涉测量方法作为材料均匀性绝对测量的测量方法，能去除干涉仪标准面及待测元件的面形影响，具有很高的测量精度。详细介绍了使用干涉手段测量ZnS光学材料折射率均匀性的方法，并通过改进设备，实现了大口径ZnS光学材料均匀性的绝对检测，检测精度不受光学零件面形精度的影响，测试精度为5×10-7。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王乔方		4	0	0.0	0.0
2	王贵全		3	0	0.0	0.0
3	于振龙		3	0	0.0	0.0
4	李汝劼		1	0	0.0	0.0
5	杨砚文		1	0	0.0	0.0