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摘要:
集成电路在实际应用中,经常会出现工作异常甚至失效的情况。当电路发生失效时,需要采用各种手段尽快定位问题所在,在本地复现相关现象,明确问题原因,进而提出针对性的解决方案。介绍一款数字信号处理器电路的失效分析过程。包括问题的出现,现场确认,失效现象复现,借助Latch-up、EMMI设备分析问题,提出改版方案。
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文献信息
篇名 一款数字信号处理器的失效分析研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 数字信号处理器 失效分析 闩锁 EMMI
年,卷(期) 2014,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 42-44,48
页数 4页 分类号 TN306
字数 1645字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王月玲 8 28 4.0 5.0
2 黄旭东 4 5 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
数字信号处理器
失效分析
闩锁
EMMI
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
论文1v1指导