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“基于ATE的集成电路测试技术”公益培训
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摘要：
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基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现
边界扫捕
IEEE1149.1标准
集成电路测试
如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
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集成电路测试原理和向量生成方法分析
集成电路测试
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集成电路应用
主办单位：
上海贝岭股份有限公司
出版周期：
月刊
ISSN：
1674-2583
CN：
31-1325/TN
开本：
16开
出版地：
上海宜山路810号
邮发代号：
创刊时间：
1984
语种：
chi
出版文献量（篇）
4823
总下载数（次）
15
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