采用X射线粉晶衍射仪实现岩石薄片中矿物的原位微区分析

• 作者: 于吉顺 肖平 陆琦
• 来源期刊: 矿物岩石
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线粉晶衍射仪 岩石薄片 原位微区 方沸石
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 矿物岩石
• 页码范围: 6-9
• 分类号: O76
• 语种: 中文

摘要

采用帕纳科(PANalytical)公司生产的型号为X\pert PRO的X射线粉晶衍射仪,对鄂尔多斯盆地方沸石岩薄片中的方沸石进行原位微区衍射,成功地确定了方沸石的物相.此次实验中,仪器在入射光路,配备点光源和光导毛细管,毛细管直径为100 um;衍射光路上则使用了超能探测器(X'Celerator).实验条件为:加速电压40 kV,电流40 mA,Cu靶,Ni滤波.将获得的方沸石衍射数据与编号为41-1478标准卡片对比,发现实验结果具有一定程度的定向性.在此基础上,提出微区X射线粉晶衍射方法的样品需满足两个要求:1)矿物颗粒的粒径小于30 um;2)在X光束照射的区域内,同种矿物的颗粒要含量集中.该方法与电子探针分析相结合,可以更准确地鉴定矿物.