影响侵彻过载测量的因素分析

• 作者: 卢玉斌 孙远程 程永生
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 侵彻过载 存储测试 加速度计
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 微电子、微系统与物理电子学
• 页码范围: 471-474
• 页数: 4页
• 分类号: TN302
• 字数: 2439字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201403.0471

摘要

研究弹体侵彻过载特性具有重要意义，通过试验实测弹体过载，为系统研究过载特性提供可靠依据。目前，存储测试技术在高 g值侵彻过载测试技术中得到了较为广泛的应用。本文基于前人研究成果，总结并论述了影响弹体侵彻过载测量准确性的几个关键因素，提出提高测量精确度的部分解决方法，研究结论对保证测试结果的有效性具有重要的参考价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程永生	中国工程物理研究院电子工程研究所	39	274	8.0	15.0
2	孙远程	中国工程物理研究院电子工程研究所	16	53	5.0	6.0
3	卢玉斌	中国工程物理研究院电子工程研究所	39	119	6.0	7.0