一起SVC一相可控硅全部击穿的原因分析

• 作者: 胡建农
• 来源期刊: 江苏电机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 集中脉冲触发 单阀脉冲触发 污闪现象 可控硅阀的部分开通
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 电网技术
• 页码范围: 61-63,68
• 页数: 4页
• 分类号: TN34
• 字数: 3876字
• 语种: 中文

摘要

静止型动态无功补偿(SVC)装置在钢铁企业已得到广泛使用,稳定运行尤其重要.本文对两大类典型触发装置在电气设备放电时的抗干扰性能分析,找到SVC一相可控硅全部击穿的原因.建议一般工业用户注意电气设备放电对触发装置的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡建农	上海梅山钢铁股份有限公司能源环保部	4	0	0.0	0.0