集成电路动态老化测试系统中高速驱动板设计

• 作者: 张福洪 曾榕 楼津甫
• 来源期刊: 电路与系统
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 动态老化 驱动板 现场可编程逻辑门阵列
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 页码范围: 53-58
• 页数: 6页
• 分类号: TP2

摘要

随着大规模集成电路生产技术的迅猛发展,多引脚封装的芯片、大容量的存储器及大规模嵌入式微处理器的广泛应用,国内现有的集成电路动态老化测试系统已不能满足需求。该文针对FPGA/CPLD集成度高、设计灵活等优点,设计并实现了一种应用于新一代动态老化系统的高速驱动板系统。该系统以Altera公司的MAXII系列CPLD芯片EPM570T144I5N为核心。通过FPGA/CPLD软硬件平台验证,该系统各个模块均工作正常,并能满足驱动能力的需求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张福洪	杭州电子科技大学通信工程学院	110	492	11.0	16.0
2	曾榕	杭州电子科技大学通信工程学院	3	7	1.0	2.0
3	楼津甫	杭州电子科技大学通信工程学院	2	0	0.0	0.0