X荧光光谱法测试地质样品中的锡

• 作者: 周国兴 岳明新 赵恩好
• 来源期刊: 当代化工
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 地质样品 标准样品 α经验系数法 康普顿散射
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 634-635,638
• 页数: 3页
• 分类号: O657
• 字数: 1316字
• 语种: 中文

摘要

采用X射线荧光光谱压片法对地质样品中Sn进行测试，通过人工配置标准样品和国家标准样品共同建立标准曲线，曲线梯度合理均匀，线性良好。该方法采用α经验系数法进行基体校正，采用Rh的康普顿散射作内标，对于地质样品中Sn元素的测试，检出限可达到3.59μg/g，样品的相对标准偏差可达到3.1%，测试效果理想。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	岳明新		9	108	6.0	9.0
2	周国兴		4	69	4.0	4.0
3	赵恩好	吉林大学地球科学学院	1	7	1.0	1.0