133Ba面源效率转移法刻度133Xe气体源HPGe探测效率

• 作者: 刘军 刘林月 刘洋 张小东 张建福 张忠兵 欧阳晓平 田自宁 阮金陆
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 面源 LabSOCS 效率刻度
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 244-249
• 页数: 6页
• 分类号: TL814
• 字数: 4217字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201426.094005

摘要

提出使用面源进行效率转移法刻度133Xe气体体源的探测效率.使用133 Ba面源模拟刻度放射性133 Xe气体体源的探测效率,在刻度的过程中利用137Cs与133Ba的峰效率比值及133Ba面源远端无符合相加效应,137Cs能峰远近都无符合相加效应等,结合软件模拟建立远近距离峰效率比值的关系,来解决133Ba的符合相加效应.最后,使用面源效率转移法进行气体体源效率刻度,转移法刻度结果和面源模拟法刻度计算值的偏差在±1％以内.