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摘要:
提出一套新的无定型碳牺牲层蚀刻工艺,新工艺应用于MEMS和Sensor牺牲材料工艺中,能够很好地解决无定形碳蚀刻工艺中有机副产物问题。在无定形碳蚀刻工艺中添加低浓度的CF4蚀刻气体(1%~5%),有助于去除在蚀刻过程中侧壁形成的有机副产物。在无定形碳蚀刻工艺前添加一步光刻胶硬化步骤,和在无定形碳蚀刻工艺后添加一步有机副产物各项异性蚀刻步骤,有助于去除表面产生的有机副产物。并针对新工艺去除无定形碳蚀刻过程中形成的有机副产物反应机制进行了详尽阐述与讨论。
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文献信息
篇名 MEMS/Sensor工艺中无定形碳应用及干法蚀刻研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 无定形碳干法蚀刻 MEMS Sensor 有机副产物去除
年,卷(期) 2014,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 40-43
页数 4页 分类号 TN305
字数 1539字 语种 中文
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
无定形碳干法蚀刻
MEMS
Sensor
有机副产物去除
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
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9543
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