飞行时间二次离子质谱在生物材料和生命科学中的应用(下)

• 作者: 孙立民
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 化学
• 关键词: 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) 成像 TOF-SIMS深度剖析 生物阵列 细胞 组织
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 385-396
• 页数: 12页
• 分类号: O657.63
• 字数: 10032字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/zpxb.2014.35.05.0385

摘要

随着仪器性能的不断提高,飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在材料表面化学分析中起着越来越重要的作用.TOF-SIMS的主要测试功能包括表面质谱、化学成像及深度剖析,本工作对TOF-SIMS的化学成像及深度剖析2种功能在生物材料和生命科学中的应用做了简单综述,重点介绍了TOF-SIMS成像技术在生物芯片制备工艺中的应用和TOF-SIMS成像和深度剖析技术对生物分子在细胞和生物体组织上空间分布的表征方法;另外,对生物样品的低温制备方法,样品表面添加基质以增强信号强度的实验手段,使用团簇一次离子源提高分子二次离子产额和利用对样品损伤小的C60离子源为轰击源做深度剖析等实验做了简单的介绍;最后,对TOF-SIMS在生物生命材料领域的应用做了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙立民	上海交通大学分析测试中心	7	36	3.0	5.0