多个Josephson结性能测试系统与实验验证

• 作者: 孔祥燕 张国峰 徐小峰 王永良 邱阳 陈桦
• 来源期刊: 低温物理学报
• 关键词: 超导量子干涉器件 约瑟夫森结 测试电路 多通道
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 页码范围: 122-125
• 页数: 4页
• 语种: 中文

摘要

在器件制备过程中,超导量子干涉器件(SQUID)和Josephson结的性能测试是非常重要是一个环节.设计一个合理高效的测试方法对于提高测试效率及可靠性非常必要.本文采用多路复用技术,设计了8通道测试电路,减小了电路面积及所需测试箱体积,降低了液氦使用成本并极大提高了测试一致性.本文对测试箱、器件放置及测试杆连接等进行了设计,成功搭建了一套多个Josephson结测试的系统,并根据常温验证的测试结果对电路进行了优化处理.最后,对多个结进行低温测试验证了该测试系统的可行性与优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱阳	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	14	63	4.0	7.0
2	陈桦	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	5	21	3.0	4.0
3	王永良	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	15	35	3.0	5.0
4	张国峰	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	4	0	0.0	0.0
5	孔祥燕	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	12	19	3.0	4.0
6	徐小峰	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	5	19	3.0	4.0