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摘要:
针对高量程加速度计在测试过程中受高冲击导致测试电路失效从而试验失败的问题,本文运用ANSYS/LS-DYNA对测试电路的焊盘受法向、纵向(与芯片管脚平行)、横向(与芯片管脚垂直)的高冲击力进行了数值模拟,分析和比较了从不同方向冲击PCB板对焊盘可靠性的影响。结果表明,不同方向相同冲击力时,抗冲击能力依次为法向、纵向、横向。研究结果对高量程加速度计的设计具有一定的参考价值。
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文献信息
篇名 不同方向高冲击作用下焊盘断裂数值模拟
来源期刊 工业技术创新 学科 工学
关键词 高冲击 ANSYS/LS-DYNA 焊盘 不同方向
年,卷(期) 2014,(5) 所属期刊栏目 技术及创新
研究方向 页码范围 537-541
页数 5页 分类号 TP212
字数 1625字 语种 中文
DOI 10.14103/j.issn.2095-8412.2014.05.006
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研究主题发展历程
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高冲击
ANSYS/LS-DYNA
焊盘
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工业技术创新
双月刊
2095-8412
10-1231/F
16开
北京市海淀区紫竹院路66号赛迪大厦18层
2014
chi
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