贮存条件下电子油对电连接器插针表面的影响

• 作者: 卢晓青 李鹏 蔡良续 路浩天 郑剑锋
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 插针 贮存试验 电子油 腐蚀
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 26-29
• 页数: 4页
• 分类号: TM503+.5|TB114.37
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2014.03.007

摘要

对电连接器的插针依次进行高温贮存和常温贮存,并在每个贮存阶段结束后对插针进行光学显微镜检查与扫描电子显微镜检查.试验结果表明:在贮存条件下,电子油会引起插针的腐蚀;并且在高温贮存与常温贮存条件下,电子油在腐蚀中所起的作用不完全相同.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡良续		17	52	5.0	6.0
2	路浩天		6	7	1.0	2.0
3	卢晓青		5	7	1.0	2.0
4	李鹏		18	44	3.0	6.0
5	郑剑锋		1	0	0.0	0.0