基于缺陷关联的静态分析优化

• 作者: 宫云战 张大林 张海龙 王前 董玉坤 金大海
• 来源期刊: 软件学报
• 学科: 工学
• 关键词: 静态分析 优化 缺陷关联 抽象解释 状态切片
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 嵌入式系统软件设计方法与技术专刊
• 页码范围: 386-399
• 页数: 14页
• 分类号: TP311
• 字数: 13154字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13328/j.cnki.jos.004538

摘要

缺陷检测一般包括静态分析与人工审查两个阶段.静态检测工具报告大量缺陷,但是主要的缺陷确认工作仍由人工完成,这是一件费时、费力的工作.巨大的审查开销可能会导致软件开发人员拒绝使用该静态缺陷检测工具.提出一种可靠的基于缺陷关联的静态分析优化方法,能够分组静态检测工具所报告的缺陷,在分组后的任意一组缺陷中,如果其主导缺陷被证明是误报(或者是真实的),就能确认其他缺陷也是误报(也是真实的).实验结果表明,基于缺陷关联的静态分析优化方法在较小的时间和空间开销下减少了22％的缺陷审查工作,能够较好地适应于大型的关键嵌入式系统程序缺陷检测.