一种基于反熔丝结构的FPGA测试技术研究

• 作者: 耿爽
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 反熔丝 可编程 测试
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 13-14,18
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 字数: 1568字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2014.02.005

摘要

介绍了一种基于反熔丝结构的FPGA电路结构及特点，阐述了该电路的功能、直流参数、交流参数的测试方法，并着重研究了该电路功能测试的测试要点及编程技巧。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	耿爽	中国电子科技集团公司第四十七研究所	8	14	2.0	3.0