晶体管老化筛选设备计量参数的校准

• 作者: 东方 刘玉波 李绍华 李贵森 薛燕
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 晶体管 老化 筛选 设备 校准
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TN710
• 字数: 2405字
• 语种: 中文

摘要

晶体管老化筛选设备是对大功率、小功率三极管( NPN、PNP型)、二极管等电子元器件进行老化筛选的计量装置。通过对被筛选的晶体管施加电压、电流等影响量来对晶体管的可靠性进行检查。介绍了老化筛选装置输出的基极电压、集电极电压、集电极电流等参数的校准方法以及对同一个参数采用不同校准方法的比较研究。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘玉波		3	4	1.0	1.0
2	薛燕		1	1	1.0	1.0
3	东方		1	1	1.0	1.0
4	李贵森		1	1	1.0	1.0
5	李绍华		1	1	1.0	1.0