浅谈两台IC分选机并行测试方法

• 作者: 周淳
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 并行测试 乒乓测试 测试系统 IC分选机 通信信号
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TN307
• 字数: 3081字
• 语种: 中文

摘要

随着半导体行业测试技术不断提高，IC分选机技术不断升级，昂贵的集成电路测试设备是导致集成电路测试成本偏高的主要因素。如何最有效地使用好现有设备，充分利用设备资源，降低测试成本，提高测试效率，是工程技术人员需要探索的问题。从如何实现两台IC分选机并行测试展开具体的说明，详细介绍两台IC分选机与测试系统并行测试的通信原理，以及实际工作中的一些注意事项，避免出现质量事故，并通过试验说明并行测试的优越性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周淳		2	1	1.0	1.0