电沉积纳米孪晶Ni中五次孪晶的电子显微分析

• 作者: 单海权 张泽 张跃飞 毛圣成
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电沉积 纳米孪晶Ni 显微结构 透射电镜(TEM) 五次孪晶
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 页码范围: 305-312
• 页数: 8页
• 分类号: TG146.15|TG113.11
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1037.2013.00443

摘要

通过直流电沉积技术制备具有高密度纳米孪晶结构的Ni,并对该材料中存在的五次孪晶结构进行了深入系统的电子显微分析.获得了纳米孪晶Ni中五次孪晶结构的HRTEM图像和SAED花样;研究了单个晶粒内部五次孪晶的结构特性、分布规律.结果表明,五次孪晶是由5个[111]晶体旋转组成,五次旋转孪晶产生的7.35°本征间隙至少由五次孪晶中的2个孪晶界分担;而且分担间隙的孪晶界呈现宽化现象,并且分解为新的孪晶,导致五次孪晶晶粒在整体形状上不具有五次对称性,呈现出一定的不规则形状.TEM截面形貌分析表明,电沉积纳米孪晶Ni呈现[110)面平行样品表面织构,晶粒为柱状晶分布,柱状生长方向为[110].通过综合结构表征,给出了五次孪晶在三维空间的结构模型.