斜视圆迹环扫SAR模式特性分析及成像方法

• 作者: 保铮 包敏 廖轶 杨泽民 邢孟道
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 合成孔径雷达 斜视圆迹环扫 多普勒参数 二维频谱
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 38-44,74
• 页数: 8页
• 分类号: TN958.2
• 字数: 4841字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2014.01.008

摘要

圆迹环扫合成孔径雷达是一种通过增加方位扫描速度来实现快速大场景成像的新型合成孔径雷达成像模式.相比于常见的正侧视圆迹环扫合成孔径雷达,斜视圆迹环扫合成孔径雷达由于其独特的观测角度,拥有正侧视圆迹环扫合成孔径雷达所不具备的观测优势.但是,现有的正侧视圆迹环扫合成孔径雷达信号特性分析方法以及成像技术已不再适用于斜视圆迹环扫合成孔径雷达.针对此问题,结合斜视圆迹环扫合成孔径雷达的运动特点,建立了回波距离模型,并进一步分析了方位扫描速度、多普勒特性及方位分辨率等参数,从中揭示了斜视圆迹环扫合成孔径雷达和经典直线模式之间的内在联系,给出了适用于斜视圆迹环扫合成孔径雷达的成像算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	保铮	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	417	6850	37.0	62.0
2	邢孟道	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	383	4353	30.0	43.0
3	包敏	西安电子科技大学电子工程学院	17	185	9.0	13.0
4	杨泽民	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	5	47	4.0	5.0
5	廖轶	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	3	15	2.0	3.0