荧光X射线参考辐射的优化

• 作者: 丁亚东 刘巧凤 宋明哲 魏可新
• 来源期刊: 辐射防护
• 关键词: 荧光X射线 参考辐射 辐射体 次级过滤 管电压 MCNP
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 页码范围: 366-369,375
• 分类号: O571|O434
• 语种: 中文

摘要

在荧光X射线参考辐射场中,射线的强度和纯度会受到机械装置本身、辐射体厚度、次级过滤厚度、X光机管电压的影响.在优化设计参考辐射装置结构的基础上,通过理论分析计算和蒙特卡罗模拟,得到荧光强度和纯度随辐射体和次级过滤厚度的变化,并对X光机管电压对荧光强度和纯度的影响进行了测量.结果显示:F-Cs这一辐射质,当辐射体Cs2SO4的厚度大于490 μm时,荧光强度达到饱和;当次级过滤TeO2的厚度约为327 μm时,荧光纯度最高;荧光强度随X光机管电压的升高而增加,纯度随管电压的升高而降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁亚东	中国科学院高能物理研究所	6	5	2.0	2.0
3	刘巧凤		2	7	2.0	2.0
4	魏可新		10	20	3.0	3.0
5	宋明哲		25	45	4.0	4.0