TD-LTE Cu卡接口一致性测试

• 作者: 毛艺丞
• 来源期刊: 电信网技术
• 关键词: TD-LTE Cu接口 USIM 一致性测试
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 网络技术——LTE智能终端测试技术专题
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

TD-LTE技术在商用化进程中面临商用终端的短板,为解决这一问题,工业和信息化部电信研究院组织各芯片和仪表厂商成立了TD-LTE终端一致性工作组,这对加快终端一致性认证的步伐,包括协议一致性、射频一致性、RRM一致性、Cu卡接口一致性测试推进起到了很大的作用.重邮信科作为小组成员之一参与了部分工作.笔者主要对TD-LTE Cu卡接口一致性测试中的一些经验进行分享,内容包括TD-LTE Cu卡接口一致性测试内容、测试环境、测试方法的介绍,测试过程中常见问题的分析总结,测试过程中的注意事项等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛艺丞		1	0	0.0	0.0