MIPS_RAC终端测试于0.13μm逻辑平台的工艺优化

• 作者: 蔡孟峰 黄晨
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 机顶盒 MIPS_RAC 器件
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 44-47
• 页数: 4页
• 分类号: TN305
• 字数: 1193字
• 语种: 中文

摘要

高清数字电视的HD-DVR机顶盒已经成为了全球发展的趋势，MIPS_RAC终端测试作为其中缓存的反应速度的主要芯片参数，其工艺窗口直接关系到机顶盒成品率的高低和稳定。文章研究了MIPS_RAC终端测试与器件速度之间的关系，并定义了MIPS_RAC在0.13μm的通用逻辑工艺平台上的工艺安全范围。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄晨		2	0	0.0	0.0
2	蔡孟峰		1	0	0.0	0.0