材料制备与分析测试仪器介绍

• 来源期刊: 中国材料科技与设备
• 学科: 工学
• 关键词: 仪器介绍 材料制备 测试 产品名称 生产单位 产品特点 图像质量 AM系列
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 93-98
• 页数: 6页
• 分类号: TB3

摘要

产品名称：Helios NanoLab^TM DualBeam^TM（FIB／SEM）生产单位：FEI COMPANY 型号：HeliosNanoLab^tm DualBeam^TM 产品特点：快速、易用、绝佳图像质量纳米级物质成像、分析和控制这些未来研发的关键因素-因HeliosNanoLab DualBeam系列仪器的诞生而变得普通平淡。