由测量回路接触不良引起介损偏大的分析

• 作者: 庄伟 程扬军 黄堃
• 来源期刊: 电力电容器与无功补偿
• 关键词: 接触不良 套管 介损测量 附加电阻
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 运行维护与故障分析
• 页码范围: 78-81
• 页数: 4页
• 分类号: TM406
• 语种: 中文

摘要

本文重点阐述测量回路接触不良对套管介损测量的影响。实例中介绍了变压器套管内部结构，并画出其等效电路图，在排除多种影响套管介损测量的因素后，通过对变压器套管中等电位销锈蚀引起的附加电阻加以向量分析，找出套管介损超标的真正原因，对比套管检修前后的试验数据阐明了测试回路的接触情况对于准确测量套管介损的重要性，最后，对变压器套管检修提出了几点建议。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程扬军		2	15	2.0	2.0
2	黄堃		1	4	1.0	1.0
3	庄伟		1	4	1.0	1.0