多源法(Ir192)检测超限设备的应用

• 作者: 徐生东 林博
• 来源期刊: 无损探伤
• 学科: 工学
• 关键词: 多源法(Ir192) 废片率 透照时间 源强度 双焦点
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: NDT之窗
• 页码范围: 36-38
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2624字
• 语种: 中文

摘要

介绍多源法(Ir192)检测超限设备技术的原理,针对大型设备射线检测的难点,将多个γ源进行捆绑合并为一颗γ源进行曝光,并对其原理和可行性进行了论证.检测结果表明多源法射线检测可以达到国家标准的质量要求,比单源透照提高工效近60％.透照时间明显降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐生东		1	0	0.0	0.0
2	林博		1	0	0.0	0.0