某制导弹药电子延时器长贮退化原因探析

• 作者: 王铄 赵铁山 郑波 齐杏林
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子延时器 长贮 加速退化 制导弹药
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 41-45
• 页数: 5页
• 分类号: TP347
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2014.01.009

摘要

通过对某制导弹药电子延时器进行失效模式分析及仿真模拟,探寻可能出现的长贮失效模式与原因.以自然贮存9年的电子延时器为样本,制订了步进温度应力加速退化试验方案,开展试验并对试验结果进行分析,得出可能导致产品退化的各种原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑波		8	58	4.0	7.0
2	齐杏林		90	387	11.0	15.0
3	赵铁山		2	1	1.0	1.0