双断口结构对特高压SF6断路器电场分布的影响分析

• 作者: 刘晓明 孙宝龙 王尔智
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 双断口串联 SF6断路器 3维电场 能量扰动法 并联电容 有限元法
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 特高压输电专题
• 页码范围: 1795-1801
• 页数: 7页
• 字数: 3518字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.06.026

摘要

特高压断路器中常采用双断口或多断口串联,但串联结构在开断过程中会产生各断口间电位分布不均的情况,导致断口电场分布发生改变.为此,基于能量扰动法求得1 100 kV双断口SF6断路器灭弧断口等效电容及断口对地等效电容,确定并联电容值,进而得到双断口分压比.再采用有限元法仿真计算了断口的非对称3维电场,定量描述、对比分析了550 kV单断口灭弧系统与1 100 kV双断口灭弧系统触头沿面电场强度,得出了不同灭弧单元的电场变化规律,以及双断口结构对电场强度分布的影响.结果表明,采用双断口串联结构时,灭弧系统的断口间电压分配不均匀,且分压比随着开断距离的增大而减小;进而导致断口间电场强度以及开断故障电路时电弧重燃风险增大.因此有必要对双断口灭弧系统断口结构进行优化设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王尔智	沈阳工业大学电气工程学院	96	847	18.0	24.0
2	刘晓明	沈阳工业大学电气工程学院	83	807	17.0	24.0
3	孙宝龙	沈阳工业大学电气工程学院	2	19	2.0	2.0