基于紫外成像技术的劣化绝缘子放电动态特性分析

• 作者: 林瑞聪 缪希仁 郭谋发 陈彬
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 紫外成像 绝缘子 放电过程 动态特性 视频图像 特征参数
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 页码范围: 87-91
• 页数: 5页
• 分类号: TM216|TM855+.2
• 语种: 中文

摘要

针对绝缘子状态检测技术的特点及其局限性，分析紫外成像技术的研究现状，确定以紫外光斑面积作为放电过程特征参量的可行性，利用3次傅里叶函数对500 kV绝缘子紫外图像数据加以拟合处理，表明劣化绝缘子的放电过程具有周期性闪烁特点。提出对放电过程连续视频图像特征量量化特性参数进行统计分析，将有助于提高紫外成像法在绝缘子劣化检测及其故障类型辨识中的应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭谋发	福州大学电气工程与自动化学院	114	817	15.0	24.0
2	陈彬		30	523	12.0	22.0
3	缪希仁	福州大学电气工程与自动化学院	140	1113	18.0	26.0
4	林瑞聪	福州大学电气工程与自动化学院	1	7	1.0	1.0