基于FPGA的硬件ECC校验的设计与实现

• 作者: 邹晨 高云
• 来源期刊: 航空计算技术
• 关键词: ECC校验 NAND FLASH FPGA 位翻转
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机应用
• 页码范围: 120-124
• 页数: 5页
• 分类号: TP343
• 语种: 中文

摘要

随着存储技术的高速发展,以NAND FLASH为存储介质的存储系统具有存储密度高、容量大、体积小、功耗低和成本低等优点,因此NAND FLASH在不同的领域都得到了广泛的应用.然而,由于NAND FLASH本身的工艺局限性,其数据在传输与存储过程中可能发生“位翻转”的现象,故为了保证存储数据的可靠性,NAND FLASH存储系统在使用过程中需要伴随一定的检错与纠错机制.在对常用的NAND FLASH存储系统校验算法进行简要介绍的基础上,结合NAND FLASH的本身特性,确定在系统中使用ECC校验.对ECC校验的原理及FPGA设计实现进行了阐述,并对设计实现进行了功能仿真和试验验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹晨		6	67	5.0	6.0
2	高云		3	23	2.0	3.0