多管芯并行测试的熔丝修调方法探索

• 作者: 张鹏辉
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 熔丝 修调 并行测试
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3365字
• 语种: 中文

摘要

随着熔丝在电路设计中的应用普及，测试环节对熔丝修调的要求也越来越高，对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压、频率或其他特性。为了提高测试效率，需要在多管芯并行测试的情况下，提高熔丝修调的准确性和修调速度。文章介绍了常见的熔丝特性及典型熔丝类集成电路在多管芯并行测试情况下的熔丝修调方法，并进一步研究了降低修调环节对测试系统资源的占用、提高修调效率、简化测试程序等几个方面的优化方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鹏辉		9	32	2.0	5.0