中子照相技术及其在无损检测中的应用研究

• 作者: 邬冠华 郭广平 陈启芳
• 来源期刊: 失效分析与预防
• 学科: 工学
• 关键词: 中子照相 无损检测 射线照相 中子源
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 388-393
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 4578字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6214.2014.06.0013

摘要

中子照相是20世纪60年代兴起的一种射线照相无损检测技术。中子与常规X射线原理相类似，但在穿透物体时的吸收特性显著不同，因此两种照相技术在适用范围上有一定的互补关系。国外中子照相技术已在航空航天、生物、考古、电子等方面有成功应用，国内由于中子源资源不易获得，应用研究滞后。简要介绍了中子照相技术的原理和检测系统构成，其基本构成为中子源、准直器和像探测器。阐述了中子照相技术的发展过程及国内外发展现状，列举了中子照相技术目前的国外的主要标准和工程应用情况，最后从研制移动式中资源、开展工业应用研究，建立相关标准等方面对我国中子照相技术发展趋势进行了展望。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭广平		24	331	11.0	18.0
3	邬冠华		5	43	4.0	5.0
6	陈启芳		1	12	1.0	1.0